Semicon 04: (nano) Metrologie systemen

Dit project richt zich op de ontwikkeling van geavanceerde metrologiesystemen om high-tech processen zoals de fabricage van geïntegreerde schakelingen en precisiediagnostiek van biologische weefsels te versnellen en te verbeteren. Er wordt gefocust op het integreren van systemen voor parallelle data-acquisitie, wat de verwerking en opslag van grote datastromen vereist.

Dit project beoogt het automatiseren en optimaliseren van workflows in laboratoria en productieomgevingen om efficiëntie te verhogen. Kerngebieden zijn de ontwikkeling van snellere en nauwkeurigere metrologiesystemen, het creëren van geoptimaliseerde workflows en het verbeteren van data-analysetechnieken voor bruikbare inzichten uit complexe datasets.

Een reeks partnerverhalen over de projectpartners zijn beschikbaar als download.