Webinar: De ontwikkelingen in NXTGEN Semicon04 & Semicon08

In het NXTGEN-programma wordt binnen het domein Semiconductors gewerkt aan de volgende generatie chips. Deze inspanning is verdeeld over negen projecten. In dit webinar ontvang je een update over de ontwikkelingen tot nu toe in de NXTGEN-projecten Semicon04 & Semicon08:

Semicon04 (nano) Metrologie systemen (Technolution)
Semicon08 Metrology Equipment for Critical Scaling of PIC Production (IMS)

Meer over het Semicon04 project:

Dit project richt zich op de ontwikkeling van geavanceerde metrologiesystemen om hightech processen zoals de fabricage van geïntegreerde circuits en precisiediagnostiek van biologische weefsels te versnellen en te verbeteren. De nadruk ligt op het integreren van systemen voor parallelle gegevensverzameling, wat de verwerking en opslag van grote datastromen vereist. Het project streeft naar automatisering en optimalisatie van workflows in laboratorium- en productieomgevingen om de efficiëntie te verhogen. Belangrijke aandachtspunten zijn de ontwikkeling van snellere en nauwkeurigere metrologiesystemen, het creëren van geoptimaliseerde workflows en het verbeteren van data-analysetechnieken om bruikbare inzichten te halen uit complexe datasets.

Meer over het Semicon08 project:
Binnen dit project worden twee machines ontwikkeld voor het testen van geïntegreerde fotonische chips. Het doel is dat het consortium wereldwijd een leider wordt in visuele en prober-testapparatuur voor geïntegreerde fotonica. Om dit te bereiken, worden drie generaties machines ontwikkeld, waarbij fundamenteel onderzoek wordt omgezet in functionele machines.

Schrijf je in voor het webinar en blijf op de hoogte van de ontwikkelingen in Semicon04 en Semicon08!