Semicon 08: Metrologie Equipment voor Kritisch Opschalen van PIC Productie

Binnen dit project worden twee machines ontwikkeld waarmee geïntegreerde fotonische chips getest kunnen worden. Het doel is om met het consortium wereldleider te worden voor visuele en prober test equipment van geïntegreerde fotonica. Hiervoor worden drie generaties machines ontwikkeld waarin fundamenteel onderzoek wordt omgezet tot werkende machines. 

Een reeks partnerverhalen over de projectpartners zijn beschikbaar als download.